Name: Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Microscopy in Geology (en Inglés)
Price: 156200.00 CLP
Availability: InStock
Author: Reed, S. J. B.
ISBN: 9780521848756

portada Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Microscopy in Geology (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Autor

S. J. B. Reed

Editorial

Cambridge University Press

Año

2006

Idioma

Inglés

N° páginas

232

Encuadernación

Tapa Dura

Dimensiones

24.8 x 18.0 x 1.6 cm

Peso

0.58 kg.

ISBN

052184875x

ISBN13

9780521848756

N° edición

0002

Categorías

Equipamiento, experimentos y técnicas científicas
Química de los minerales, mineralogía y gemas
Geología, geomorfología y litosfera

Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Microscopy in Geology (en Inglés)

S. J. B. Reed (Autor) · Cambridge University Press · Tapa Dura

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Reseña del libro "Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Microscopy in Geology (en Inglés)"

Originally published in 2005, this book covers the closely related techniques of electron microprobe analysis (EMPA) and scanning electron microscopy (SEM) specifically from a geological viewpoint. Topics discussed include: principles of electron-target interactions, electron beam instrumentation, X-ray spectrometry, general principles of SEM image formation, production of X-ray 'maps' showing elemental distributions, procedures for qualitative and quantitative X-ray analysis (both energy-dispersive and wavelength-dispersive), the use of both 'true' electron microprobes and SEMs fitted with X-ray spectrometers, and practical matters such as sample preparation and treatment of results. Throughout, there is an emphasis on geological aspects not mentioned in similar books aimed at a more general readership. The book avoids unnecessary technical detail in order to be easily accessible, and forms a comprehensive text on EMPA and SEM for geological postgraduate and postdoctoral researchers, as well as those working in industrial laboratories.