Name: Évaluation théorique de la réflectance dans les films minces AL/SiO2 (en Francés)
Price: 63000.00 CLP
Availability: InStock
Author: Ortega Cabrera, Jesús Javier
ISBN: 9786203622218

portada Évaluation théorique de la réflectance dans les films minces AL/SiO2 (en Francés)

Évaluation théorique de la réflectance dans les films minces AL/SiO2 (en Francés)

Formato

Libro Físico

Autor

Jesús Javier Ortega Cabrera

Editorial

Editions Notre Savoir

Idioma

Francés

N° páginas

Encuadernación

Tapa Blanda

Dimensiones

22.9 x 15.2 x 0.5 cm

Peso

0.14 kg.

ISBN13

9786203622218

Categorías

Ingeniería: general

Évaluation théorique de la réflectance dans les films minces AL/SiO2 (en Francés)

Jesús Javier Ortega Cabrera (Autor) · Editions Notre Savoir · Tapa Blanda

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Reseña del libro "Évaluation théorique de la réflectance dans les films minces AL/SiO2 (en Francés)"

L'amélioration des propriétés optiques d'un matériau, comme la réflectance, implique la recherche complexe des paramètres expérimentaux optimaux dans le processus d'obtention. L'utilisation de logiciels de calcul pour la simulation de ces processus de croissance de films minces représente un avantage substantiel en raison de la non-dépendance par rapport à un système réel, ainsi que de la possibilité d'explorer une gamme plus large de quantités physiques impliquées. De plus, il existe un besoin dans l'industrie automobile, Varroc Lighting Systems(c) s'est vu confier la tâche d'améliorer la réflectance des phares aluminisés, nous avons donc réalisé le développement, en utilisant le logiciel NASCAM(R), qui utilise la méthode cinétique de Monte Carlo pour développer un modèle du système physique à étudier à une échelle nanométrique, cela nous permettra d'analyser l'influence de différentes magnitudes qui peuvent affecter la réflectance du matériau.