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Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization (en Inglés)
Sadewasser, Sascha ; Glatzel, Thilo (Autor)
·
Springer
· Tapa Blanda
Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization (en Inglés) - Sadewasser, Sascha ; Glatzel, Thilo
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Reseña del libro "Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization (en Inglés)"
Presents the applications of Kelvin probe force microscopy in nanotechnologyProvides an in-depth description of a variety of theoretical and experimental aspects of the techniqueIncludes contributions by the leading experts in the field
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