Compartir
Key Concepts of Scanning Electron Microscopy (en Inglés)
Ny Research Press (Autor)
·
Ny Research Press
· Tapa Dura
Key Concepts of Scanning Electron Microscopy (en Inglés) - Ny Research Press
$ 98.520
$ 197.030
Ahorras: $ 98.510
Elige la lista en la que quieres agregar tu producto o crea una nueva lista
✓ Producto agregado correctamente a la lista de deseos.
Ir a Mis Listas
Origen: Estados Unidos
(Costos de importación incluídos en el precio)
Se enviará desde nuestra bodega entre el
Lunes 03 de Junio y el
Jueves 13 de Junio.
Lo recibirás en cualquier lugar de Chile entre 1 y 3 días hábiles luego del envío.
Reseña del libro "Key Concepts of Scanning Electron Microscopy (en Inglés)"
This book on scanning electron microscopy examines the key concepts employed in the field. Fine focused electron and ion beams constitute(s) an inevitable part of methods and instruments employed in various science fields. SEMs are well instrumented and supplemented with advanced techniques and methods and thereby present endless possibilities in the areas of quantitative measurement of object topologies, surface imaging, performing elemental analysis and local electrophysical characteristics of semiconductor structures. Creation of micro and nanostructures involves extensive use of fine focused e-beam. This book focuses on various issues concerned with scanning electron microscopy, covering both theoretical and practical applications. It further includes numerous topics on geoscience, instrumentation, mineralogy, thin films, biology, ceramic and materials for electronic industry. This book includes contributions by renowned researchers and experts in this field.
- 0% (0)
- 0% (0)
- 0% (0)
- 0% (0)
- 0% (0)
Todos los libros de nuestro catálogo son Originales.
El libro está escrito en Inglés.
La encuadernación de esta edición es Tapa Dura.
✓ Producto agregado correctamente al carro, Ir a Pagar.
