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microelectronic reliability vol. i: test and diagnostics (en Inglés)
Edward B. Hakim
(Autor, Introducción de, Prefacio de)
·
Artech House Publishers
· Tapa Dura
microelectronic reliability vol. i: test and diagnostics (en Inglés) - Hakim, Edward B. ; Hakim, Edward B. ; Hakim, Edward B.
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Reseña del libro "microelectronic reliability vol. i: test and diagnostics (en Inglés)"
Text/reference spaning the theoretical concepts of reliability models and failure distributions, to GaAs microcircuit processing and test. Provides background on the development of quality assurance and verification procedures. Some of the new changes under development to cope with pressures brought
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El libro está escrito en Inglés.
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