Compartir
microscopy of semiconducting materials: proceedings of the 14th conference, april 11-14, 2005, oxford, uk (en Inglés)
A. G. Cullis
(Ilustrado por)
·
John L. Hutchison
(Ilustrado por)
·
Springer
· Tapa Blanda
microscopy of semiconducting materials: proceedings of the 14th conference, april 11-14, 2005, oxford, uk (en Inglés) - Cullis, A. G. ; Hutchison, John L.
$ 367.720
$ 510.720
Ahorras: $ 143.000
Elige la lista en la que quieres agregar tu producto o crea una nueva lista
✓ Producto agregado correctamente a la lista de deseos.
Ir a Mis Listas
Origen: Estados Unidos
(Costos de importación incluídos en el precio)
Se enviará desde nuestra bodega entre el
Viernes 05 de Julio y el
Miércoles 17 de Julio.
Lo recibirás en cualquier lugar de Chile entre 1 y 3 días hábiles luego del envío.
Reseña del libro "microscopy of semiconducting materials: proceedings of the 14th conference, april 11-14, 2005, oxford, uk (en Inglés)"
The 14th conference in the series focused on the most recent advances in the study of the structural and electronic properties of semiconducting materials by the application of transmission and scanning electron microscopy. The latest developments in the use of other important microcharacterisation techniques were also covered and included the latest work using scanning probe microscopy and also X-ray topography and diffraction.