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noncontact atomic force microscopy: volume 2 (en Inglés)
Roland Wiesendanger
(Ilustrado por)
·
Seizo Morita
(Ilustrado por)
·
Franz J. Giessibl
(Ilustrado por)
·
Springer
· Tapa Blanda
noncontact atomic force microscopy: volume 2 (en Inglés) - Morita, Seizo ; Giessibl, Franz J. ; Wiesendanger, Roland
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Reseña del libro "noncontact atomic force microscopy: volume 2 (en Inglés)"
Since the original publication of Noncontact Atomic Force Microscopy in 2002, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. This second treatment deals with the following outstanding recent results obtained with atomic resolution since then: force spectroscopy and mapping with atomic resolution; tuning fork; atomic manipulation; magnetic exchange force microscopy; atomic and molecular imaging in liquids; and other new technologies. These results and technologies are now helping evolve NC-AFM toward practical tools for characterization and manipulation of individual atoms/molecules and nanostructures with atomic/subatomic resolution. Therefore, the book exemplifies how NC-AFM has become a crucial tool for the expanding fields of nanoscience and nanotechnology.
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El libro está escrito en Inglés.
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