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Reliability Analysis of Electrotechnical Devices (en Inglés)
Tan, Cher Ming (Autor)
·
Mdpi AG
· Tapa Dura
Reliability Analysis of Electrotechnical Devices (en Inglés) - Tan, Cher Ming
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Reseña del libro "Reliability Analysis of Electrotechnical Devices (en Inglés)"
This is a book on the practical approaches of reliability to electrotechnical devices and systems. It includes the electromagnetic effect, radiation effect, environmental effect, and the impact of the manufacturing process on electronic materials, devices, and boards.
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El libro está escrito en Inglés.
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