Compartir
advanced test methods for srams (en Inglés)
Bosio,Dilillo,Girard,Pravossoudovitch,Virazel (Autor)
·
springer publishing map
· Libro Físico
advanced test methods for srams (en Inglés) - bosio,dilillo,girard,pravossoudovitch,virazel
$ 122.940
$ 245.870
Ahorras: $ 122.930
Elige la lista en la que quieres agregar tu producto o crea una nueva lista
✓ Producto agregado correctamente a la lista de deseos.
Ir a Mis Listas
Origen: Estados Unidos
(Costos de importación incluídos en el precio)
Se enviará desde nuestra bodega entre el
Viernes 31 de Mayo y el
Miércoles 12 de Junio.
Lo recibirás en cualquier lugar de Chile entre 1 y 3 días hábiles luego del envío.
Reseña del libro "advanced test methods for srams (en Inglés)"
modern electronics depend on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing and diagnostics. memories are particularly prone to defects since they exploit the technology limits to get the highest density. this book is an invaluable guide to the testing and diagnostics of the latest generation of sram, one of the most widely applied types of memory. classical methods for testing memory are designed to handle the so-called static faults, but these test solutions are not sufficient for faults that are emerging in the latest very deep sub-micron (vdsm) technologies. these new fault models, referred to as dynamic faults, are not covered by classical test solutions and require the dedicated test sequences presented in this book.
