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portada defect-oriented testing for nano-metric cmos vlsi circuits (en Inglés)
Formato
Libro Físico
Editorial
Autor
Año
2010
Idioma
Inglés
N° páginas
328
ISBN
1441942858
ISBN13
9781441942852
Categorías

defect-oriented testing for nano-metric cmos vlsi circuits (en Inglés)

Sachdev, Manoj (Autor) · springer · Libro Físico

defect-oriented testing for nano-metric cmos vlsi circuits (en Inglés) - sachdev, manoj

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