Name: Encyclopedia of Scanning Electron Microscopy (en Inglés)
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ISBN: 9781632381668

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portada Encyclopedia of Scanning Electron Microscopy (en Inglés)

Encyclopedia of Scanning Electron Microscopy (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Editorial

Ny Research Press

Año

2015

Idioma

Inglés

N° páginas

324

Encuadernación

Tapa Dura

ISBN13

9781632381668

Categorías

Equipamiento, experimentos y técnicas científicas

Encyclopedia of Scanning Electron Microscopy (en Inglés)

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Reseña del libro "Encyclopedia of Scanning Electron Microscopy (en Inglés)"

This book focuses on various issues concerned with scanning electron microscopy, as well as its theoretical and practical applications. Fine focused electron and ion beams constitute(s) an inevitable part of methods and instruments employed in various science fields. SEMs are well instrumented and supplemented with advanced techniques and methods and thereby present endless possibilities in the areas of quantitative measurement of object topologies, surface imaging, performing elemental analysis and local electrophysical characteristics of semiconductor structures. Creation of micro and nanostructures involves extensive use of fine focused e-beam. Numerous topics are covered under two sections "Instrumentation, Methodology" and "Biology, Medicine" for electronic industry. This book includes contributions by renowned researchers and experts in this field.