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photo-excited charge collection spectroscopy: probing the traps in field-effect transistors (en Inglés)
Im, Seongil ; Chang, Youn-Gyoung ; Kim, Jae Hoon
photo-excited charge collection spectroscopy: probing the traps in field-effect transistors (en Inglés)
Seongil Im (Autor) · Youn-Gyoung Chang (Autor) · Jae Hoon Kim (Autor) · Springer · Tapa Blanda
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$ 52.820photo-excited charge collection spectroscopy: probing the traps in field-effect transistors (en Inglés)
Im, Seongil ; Chang, Youn-Gyoung ; Kim, Jae Hoon
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