Name: Reliability and Radiation Effects in Compound Semiconductors (en Inglés)
SKU: 3101615
Price: 226490.00 CLP
Availability: InStock
Author: Johnston, Allan H.
ISBN: 9789814277105

portada Reliability and Radiation Effects in Compound Semiconductors (en Inglés)

Reliability and Radiation Effects in Compound Semiconductors (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Autor

Allan H. Johnston

Editorial

World Scientific Publishing Company

Idioma

Inglés

N° páginas

376

Encuadernación

Tapa Dura

Dimensiones

22.9x15.7x2.5 cm

Peso

0.68 kg.

ISBN

9789814277105

ISBN13

9789814277105

Categorías

Química nuclear, fotoquímica y radiación
Dispositivos y materiales electrónicos
Tecnología aeroespacial y aeronáutica
Astronáutica

Reliability and Radiation Effects in Compound Semiconductors (en Inglés)

Allan H. Johnston (Autor) · World Scientific Publishing Company · Tapa Dura

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Reseña del libro "Reliability and Radiation Effects in Compound Semiconductors (en Inglés)"

This book focuses on reliability and radiation effects in compound semiconductors, which have evolved rapidly during the last 15 years. It starts with first principles, and shows how advances in device design and manufacturing have suppressed many of the older reliability mechanisms.It is the first book that comprehensively covers reliability and radiation effects in optoelectronic as well as microelectronic devices. It contrasts reliability mechanisms of compound semiconductors with those of silicon-based devices, and shows that the reliability of many compound semiconductors has improved to the level where they can be used for ten years or more with low failure rates.