Compartir
semiconductor device and failure analysis: using photon emission microscopy (en Inglés)
Chim, Wai-Kin (Autor)
·
john wiley & sons
· Libro Físico
semiconductor device and failure analysis: using photon emission microscopy (en Inglés) - chim, wai-kin
$ 232.610
$ 465.220
Ahorras: $ 232.610
Elige la lista en la que quieres agregar tu producto o crea una nueva lista
✓ Producto agregado correctamente a la lista de deseos.
Ir a Mis Listas
Origen: Reino Unido
(Costos de importación incluídos en el precio)
Se enviará desde nuestra bodega entre el
Jueves 27 de Junio y el
Lunes 08 de Julio.
Lo recibirás en cualquier lugar de Chile entre 1 y 3 días hábiles luego del envío.
- 0% (0)
- 0% (0)
- 0% (0)
- 0% (0)
- 0% (0)
Todos los libros de nuestro catálogo son Originales.
El libro está escrito en Inglés.
✓ Producto agregado correctamente al carro, Ir a Pagar.