Name: Instruments de contrôle des radiations dans l'espace (en Francés)
Price: 60370.00 CLP
Availability: InStock
Author: Mahant, Keyur ; Mewada, Hiren ; Patel, Amit
ISBN: 9786205308912

portada Instruments de contrôle des radiations dans l'espace (en Francés)

Formato

Libro Físico

Autor

Keyur Mahant

Hiren Mewada

Amit Patel

Editorial

Editions Notre Savoir

Idioma

Francés

N° páginas

Encuadernación

Tapa Blanda

Dimensiones

22.9 x 15.2 x 0.3 cm

Peso

0.09 kg.

ISBN13

9786205308912

Categorías

Ingeniería electrónica

Instruments de contrôle des radiations dans l'espace (en Francés)

Keyur Mahant (Autor) · Hiren Mewada (Autor) · Amit Patel (Autor) · Editions Notre Savoir · Tapa Blanda

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Reseña del libro "Instruments de contrôle des radiations dans l'espace (en Francés)"

Les particules chargées peuvent avoir des effets néfastes sur les engins spatiaux et les composants électroniques. Les effets du rayonnement des particules à haute énergie provoquent la charge de la surface du vaisseau spatial, la dégradation ou la défaillance permanente des composants et sous-systèmes électroniques par des effets d'événement unique, des dommages de déplacement et des effets de dose ionisante dans le vaisseau spatial. Les effets des transitoires de charge induits par les ions peuvent être divisés en trois catégories de base: La dose ionisante totale (TID), le transfert d'énergie linéaire (LET) et les perturbations dues à un événement unique (SEU).L'effet TID est une accumulation d'énergie ionisante déposée sur une longue période sur les matériaux semi-conducteurs. L'effet TID est l'accumulation de l'énergie ionisante déposée sur une longue période sur les matériaux semi-conducteurs. La perte ou le transfert total d'énergie vers le matériau par unité de distance de parcours à travers le matériau est appelé TLE Les dispositifs électroniques peuvent être perturbés par le passage d'électrons énergétiques, de protons ou d'ions plus lourds qui peuvent modifier l'état d'un circuit, produisant des "effets d'événement unique". SEU et multiple-bit upset (MBU) qui modifient l'état logique des noeuds internes du circuit. Elles peuvent être réinitialisées par différentes opérations électriques. Ces erreurs sont appelées soft errors et sont récupérables.